ZeeCam系列
3D数字显微镜相机可与立式或倒置材料显微镜兼容。无需显微镜修改或其他附件,可以使用所有类型的物镜放大倍率和数值孔径。
ZeeCam随附GetPhase软件,其中包括用于Z深度测量,3D表面形貌,粗糙度和台阶高度测量的综合工具,并成功用于以下应用领域:金属涂料、电子涂料、陶瓷聚合物、半导体材料、宝石学、博物馆、法医。
ZeeCam系列3D数字显微镜相机可进行快速精确的z向扫描,该3D显微镜相机使用专用的光学组件进行3D扫描,集成了新型数字透镜技术,从而取代了传统的电动手段,例如步进电机或压电设备等,从而实现了Z轴方向上精确且高度可重复的3D采集和分析。
快速准确的3D表面计量:
ZeeScan和Getphase以一种快速和简单的方式进行三维采集和分析。非接触光学表面轮廓具备很高的可重复性。
-纳米和微米范围内的范围表面分析
-从光滑到粗糙的表面检测能力
-ISO粗糙度和台阶高度测量
-快速采集和处理时间的高通量
强大的成像功能:
可以自动实现高分辨率图像的Z向叠加,提供图像融合图像(扩展景深图像、Z深度测量或三维重建)。此外,GetPhase还提供了二维测量和图像文档工具。
-无需专门的光学器件即可显示出*精细的结构细节
-单击具有多个视图的图像文档
-自动图像融合(扩展景深)
-2D测量和报告
ZeeCam系列3D数字显微镜产品规格:
型号 |
ZeeCam 100 |
ZeeCam 150 |
ZeeCam 200 |
相机 |
½”CMOS 1280 x 1024
5.2µm square pixels
30fps@full resolution |
1/1.8”CCD 1616 x 1216
4.40 square pixels
12fps@full resolution |
½”CCD 2560 x 1920
2.20 square pixels
6fps@full resolution |
显微镜接口 |
视频端口-C mount接口,推荐1× c-mount 安装耦合器 |
尺寸&重量 |
|
ZeeCam头 |
155(H) 80(W) 56(D) mm 375 g |
控制单元 |
40(H) 158(W) 150(D) mm 150g |
电源 |
110/220 V AC |
PC端接口 |
USB 2.0 |
3D测量性能:
c-mount耦合器的放大倍数是取决于Z范围和分辨率的客观因素。下表给出了使用1X耦合器进行标准物镜放大的典型性能。 对于任何其他放大倍率和/或c-mount耦合器配置,可以采用以下公式:Z Range = 16mm / (G_Obj * G_adapt)² Z Resolution = Objective Depth Of Field /4
G_Obg = Objective magnification G_adapt = c‐mount coupler magnification
物镜
Mag/NA |
Z轴范围(μm) |
Z轴分辨率(μm) |
5X / 0.10 |
640 |
18.5 |
10X / 0.25 |
160 |
3 |
20X / 0.45 |
40 |
1 |
50X / 0.8 |
6.4 |
0.25 |
-Z轴精度:1 %
-Z轴可重复性:0.35 %
-*大坡度:90°
-由相机分辨率和物镜放大率确定XY空间分辨率
粗糙度测量:
共提供了12个分析参数,包括常用的Ra(Sa),Rq(Sq),Rz(Sz)等参数。且参数符合ISO 4287, 25178 DIN 4768标准。
-测量范围:Ra,Rq:0.01-500 µm
-测量准确度: ≤±10%
-测量重复性:≤6%
软件:
GetPhase®GUI软件(随附)与Windows 8、7,XP和Vista兼容。 GetPhase®提供
从自动采集到2D / 3D图像分析,以及文档和报告生成的全面工具。可选的API / SDK包括ZeeScan采集控件,Z-stack例程,3D重建,EDF,DIC,相位和3D表面分析。
采集&处理 |
2D/3D展示&分析 |
图像数据导出和报告 |
2D/3D采集向导 |
BF, DF, Ph, DIC, 3D视图 |
项目存档 |
自动对焦及曝光 |
文字和图像叠加 |
3D数据的Excel导出 |
关注区域 |
2D/3D测量 |
第三方软件的3D数据 |
系统导航 |
图像融合(EDF) |
报告编辑器 |
拼接 |
粗糙度ISO标注 |
HTML兼容的演示 |
宏录制 |
步进高度测量 |
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