PhaseView3D数字显微镜相机ZeeCam系列

 

ZeeCam系列3D数字显微镜相机可与立式或倒置材料显微镜兼容。无需显微镜修改或其他附件，可以使用所有类型的物镜放大倍率和数值孔径。
ZeeCam随附GetPhase软件，其中包括用于Z深度测量，3D表面形貌，粗糙度和台阶高度测量的综合工具，并成功用于以下应用领域：金属涂料、电子涂料、陶瓷聚合物、半导体材料、宝石学、博物馆、法医。


ZeeCam系列3D数字显微镜相机可进行快速精确的z向扫描，该3D显微镜相机使用专用的光学组件进行3D扫描，集成了新型数字透镜技术，从而取代了传统的电动手段，例如步进电机或压电设备等，从而实现了Z轴方向上精确且高度可重复的3D采集和分析。


快速准确的3D表面计量：
ZeeScan和Getphase以一种快速和简单的方式进行三维采集和分析。非接触光学表面轮廓具备很高的可重复性。
-纳米和微米范围内的范围表面分析
-从光滑到粗糙的表面检测能力
-ISO粗糙度和台阶高度测量
-快速采集和处理时间的高通量


强大的成像功能：
可以自动实现高分辨率图像的Z向叠加，提供图像融合图像（扩展景深图像、Z深度测量或三维重建）。此外，GetPhase还提供了二维测量和图像文档工具。
-无需专门的光学器件即可显示出*精细的结构细节
-单击具有多个视图的图像文档
-自动图像融合（扩展景深）
-2D测量和报告

ZeeCam系列3D数字显微镜产品规格：

型号	ZeeCam 100	ZeeCam 150	ZeeCam 200
相机	½”CMOS 1280 x 1024 5.2µm square pixels 30fps@full resolution	1/1.8”CCD 1616 x 1216 4.40 square pixels 12fps@full resolution	½”CCD 2560 x 1920 2.20 square pixels 6fps@full resolution
显微镜接口	视频端口-C mount接口，推荐1× c-mount 安装耦合器
尺寸&重量
ZeeCam头	155(H) 80(W) 56(D)  mm     375 g
控制单元	40(H) 158(W) 150(D)  mm   150g
电源	110/220 V AC
PC端接口	USB 2.0

3D测量性能：
c-mount耦合器的放大倍数是取决于Z范围和分辨率的客观因素。下表给出了使用1X耦合器进行标准物镜放大的典型性能。 对于任何其他放大倍率和/或c-mount耦合器配置，可以采用以下公式：Z Range = 16mm / (G_Obj * G_adapt)² Z Resolution = Objective Depth Of Field /4
G_Obg = Objective magnification    G_adapt = c‐mount coupler magnification

 

物镜 Mag/NA	Z轴范围（μm）	Z轴分辨率（μm）
5X / 0.10	640	18.5
10X / 0.25	160	3
20X / 0.45	40	1
50X / 0.8	6.4	0.25

-Z轴精度：1 %
-Z轴可重复性：0.35 %
-*大坡度：90°
-由相机分辨率和物镜放大率确定XY空间分辨率


粗糙度测量：
共提供了12个分析参数，包括常用的Ra（Sa)，Rq（Sq)，Rz（Sz)等参数。且参数符合ISO 4287, 25178 DIN 4768标准。
-测量范围：Ra，Rq：0.01-500 µm
-测量准确度: ≤±10%
-测量重复性：≤6%


软件：
GetPhase®GUI软件（随附）与Windows 8、7，XP和Vista兼容。 GetPhase®提供
从自动采集到2D / 3D图像分析，以及文档和报告生成的全面工具。可选的API / SDK包括ZeeScan采集控件，Z-stack例程，3D重建，EDF，DIC，相位和3D表面分析。

 

采集&处理	2D/3D展示&分析	图像数据导出和报告
2D/3D采集向导	BF, DF, Ph, DIC, 3D视图	项目存档
自动对焦及曝光	文字和图像叠加	3D数据的Excel导出
关注区域	2D/3D测量	第三方软件的3D数据
系统导航	图像融合（EDF）	报告编辑器
拼接	粗糙度ISO标注	HTML兼容的演示
宏录制	步进高度测量