Phaseview光束质量分析仪 M2仪 激光波面分析仪
详细信息
| | 品牌：Phaseview | | 型号：BeamWave | | 加工定制：否 | |
| | 测量范围：350~1100nm | | 测量精度：±0.1μm ° | | 外形尺寸：41×55×80 mm | |
| | 用途：测量激光的M2，发散角 | | 长度：100 mm | | 工作温度：0~50 ℃ | |
| | 重量：0.5 ㎏ | | 装箱数：1台装 | | | |
法国PhaseView以独树一帜的激光M2测试技术而闻名，其光束质量分析仪产品采用了独特的专利技术。原理是在CCD内部，激光光束被分成两束分别前后到达CCD探测器阵面的光束，从而得到分别前后的两个光束图像，通过分析比较这两个图像的波前能量强度分布和波前相位分布可以分析的出该光束的M2、光束质量、发散角和其它传播参数。PhaseView的核心能力时光学设计和计算机技术开发，致力于激光、眼科仪器、科研级光学精密仪器的表面和波前测量解决方案，主要产品包括激光光束质量分析仪，3D表面测量仪，光学测试系统，激光光束分析仪，数字显微镜等。
深圳维尔克斯光电是法国PhaseView的授权代理商，*供应其BeamWave系列所有型号产品。
BeamWave激光光束分析仪、激光轮廓仪、激光光束质量分析仪
BeamWave系列光束质量分析仪运用了PhaseView公司*新的波前传感技术。BeamWave具有采用一体化的设计，仅用CCD一次成像就能够获得激光的光束质量（M2）数据，测试过程无需移动任何部件。BeamWave摆脱了传统光束质量分析仪的笨重系统，没有移动部件和额外的附件 ，单一设备即可实现光斑形貌参数、光斑传播参数、M2因子等全部激光束参数的分析测量。
BeamWave光束质量分析仪的优点：
- 一台BeamWave测量所有的激光光束参数
- 高分辨率光强和波前同步测量
- 瞬时单点M2测量，无需繁琐的移动部件
- 连续和脉冲光束，脉冲测量自动触发
- 结构简单，免维护
- 价格相对低廉
原理：在CCD内部，激光光束被分成两束分别前后到达CCD探测器阵面的光束，从而得到分别前后的两个光束图像，通过分析比较这两个图像的波前能量强度分布和波前相位分布可以分析测量出该光束的所有参数：
1. 光束形貌参数：三维能量分布，光斑位置，发散角，腰斑大小，
2. 光束传播参数：波前能量分布，波前相位分布，波前曲率半径，腰斑大小和位置，瑞利长度等等
3. M2因子
传统光束质量分析仪由Shack-Hartmann波前探测器取样测量波前能量，测量分辨率低，测量M2需要复杂的导轨，测量速度慢等等。相较于传统的Shack-Hartmann波前探测器，BeamWave具有高速、高分辨率、无需导轨、测量更全面 优势。
BeamWave型号分为BeamWave 10、BeamWave 500、BeamWave 1000、BeamWave 1500，以及*新款BeamWave FIR其规格参数如下表:
| 型号 |
BeamWave10 |
BeamWave500 |
BeamWave1000 |
BeamWave1500 |
| *大输入光束直径（1/e 2） |
2mm |
3.2mm |
4.8mm |
6.4mm |
| （双CCD） |
| 光束强度测量模式 |
连续或脉冲，XYZ三轴测量 |
| 波长范围 |
350-1100nm |
| 有效CCD口径 |
2mm |
3.2mm |
4.8mm |
6.4mm |
| CCD像元大小 |
5.2x52μm |
6.4x6.4μm |
| M2测量功能 |
无 |
CW或Pulse |
CW |
| M2范围 |
-- |
1-50 |
1-50 |
1-50 |
| M2模式 |
-- |
连续 或脉冲型 |
连续型 |
| M2精度 |
-- |
±5% |
±5% |
±5% |
| M2重复性 |
-- |
2% |
2% |
| 波前测量功能 |
有 |
| 波前测量点数 |
350 x350 |
500×500 |
1392×1040 |
1392 X1040 |
| 波前灵敏度（λ），rms |
λ/50 |
0.005 |
0.005 |
3nm, >λ/200 |
| 波前精度（λ），rms |
λ/15 |
0.01 |
0.01 |
6nm, >λ/100 |
| 波前动态范围（λ） |
1200 |
1500 |
1500 |
1800 |
| 测量时间 |
实时 |
| 重量 |
0.35kg |
0.35kg |
2.5kg |
1.15kg |
| 尺寸，mm |
44x44x25.4 |
41×55×80 |
87×161×84 |
114x72x172 |
| 光学接口 |
C-Mount |
| 计算机接口 |
USB2.0 |
| 标配软件 |
Alignment Tool |
GetLaseFullEdition |
GetLase FullEdition |
GetLase FullEdition |
| GetWave |
GetWave |
| 供电 |
USB供电，无需电源 |
可选项：
3ND Filter, Beam Splitter Wedges, IR Converter |
光束缩束和扩束, Beam Reducer/Expander2X,3X,4X |
Software Development Kit软件，GetWave软件 |
波长从紫外到红外的特定探测器（其他波长） |
BeamWave FIR（新款）：
| 适用波长范围 |
2-16 µ m |
| 像素 |
640 x 480 |
| 像素间距 |
17 µ m |
| 图像区域 |
10.88 x 8.16 毫米 |
| 波前测量点 / 横向分辨率 |
640 x 480 / 17µm |
| 灵敏度 |
0.01 Λ |
| 动态范围 |
1 500 Λ |
| 重量 |
272 g |
| 尺寸 |
61 × 67 × 66 毫米 |
| Pc 机接口 |
USB 2.0
Windows 7，XP，Vista |
一、WaveMap光束监测分析仪
WaveMap是一款可对激光光源或由于光学元器件所引起的波前畸变的光强分布以及波前面型等进行动态分析的智能化波前传感器，并且性价比较高。WaveMap专用分析软件可与 XP, Vista 以及 Windows 7 等系统完全兼容。
特点：
•即插即用型USB波前传感器 •500 x 500数据点波前图
•无小透镜，动态范围及分辨率之间不存在相互制衡
•光相位及光强同步测量 •高分辨率波前分析图
•实时柱状图Zernike分析 •离轴，像散，离焦及高阶像差的实时监测
•即插即用，实时读取 •小巧轻便，方便测量
应用
•高精度光束分析 •采用空间光束调制器进行光束监测和分析
•复杂光路的波前分析 •低阶和高阶像差测量
•激光光束特性 •自适应光学
主要技术参数：
| *大光束尺寸 |
3.3 x 3.3 mm |
| 相机分辨率 |
1280 x 1024 |
| 波长 |
350 – 1100 nm |
| 波前敏感度 |
λ/100 rms (@ 633 nm) |
| 波前精度 |
λ/50 rms (@ 633 nm) |
| 波前动态范围 |
> 1 500 λ (@ 633 nm) |
| 供电 |
通过USB |
| 重量及尺寸 |
350g 25 x 32 x 43mm |
二、WaveGauge高分辨率光学测试仪
WaveGauge高分辨率光学测试仪基于*先进波前分析技术而设计，可提供无与伦比的测量性能。可测量调制传递函数、点扩散函数、像差等参数，满足*新的非球面镜头、集成光路和隐形眼镜*高的测量要求。一般用于实验室、车间、生产线上对产品的质量进行检测，判断出缺陷，供以修整。
其型号分为WaveGauge-T（透射式）和WaveGauge-R（反射式）。
可测量参数：照准能量及能量图，任意阶透镜像差，点扩散函数（PSF），调制传递函数（MTF），有效焦距（EFL）
WaveGauge的Digital Wavefront Camera(DWC)感光检测系统
与传统的Shack-Hartmann sensors传感器测量效果的对比
该软件功能繁多，集成度高，可测量波面并绘制、测量透镜特性等等，并能对数据进行记录和保存，完全兼容XP、VISTA和Win7系统。
主要技术参数:
| 传感器类型 |
CCD |
| 传感器尺寸 |
2/3” |
| 拍摄分辨率 |
1392x1040 |
| 拍摄帧速 |
15Hz |
| 适用波长范围, nm |
350 ‐ 1100 |
| 光圈直径 |
0.5 - 6 mm (20mm含适配器) |
| 能量范围 |
‐20 to +20 D |
| 能量绝对精度 |
0.1 - 0.3 % |
| 能量分辨率 |
0.01 D |
| 光源波长 |
535 nm ± 15 nm |
| 计算机接口 |
USB 2.0 |
| 电源 |
110 / 220 交流电源 |
| 尺寸, cm/重量, kg |
67.5 x 18.5 x 15.5/ 6 |
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