| 品牌:法国Phasics | | 加工定制:否 | | 型号:SID4-SWIR-HR | |
| 光源:1 | | 波长范围:1 nm | | 焦距:1 mm | |
| 外形尺寸:1 mm | | 重量:1 g | | 适用范围:1 | |
SID4 SWIR HR波前分析仪,0.9-1.7 μm超高采样分辨率
法国Phasics提供的SID4 SWIR HR红外高分辨率波前分析仪集成了InGaAs探测器和Phasics独特的专利技术——四波横向剪切设计而成的。由于SID4 SWIR HR近红外波前分析仪的超高采样分辨率(160 x 128 phase pixels)和高灵敏度,可以精确的测量900 nm到1.7 μm的波前数据。短波红外波前传感器SID4 SWIR HR是一种创新的设计方案,它的镜头可以应用于光通信,仪器检测,军事或夜视监测等领域。
SID4 SWIR HR超高采样分辨率波前传感器的主要特点:
- 覆盖0.9-1.7 μm短波红外波段
- 160 x 128的高相位采样分辨率
- 高感光灵敏度,可适用于低功率红外光源测试
SID4 SWIR HR近红外波前分析仪的主要应用:
- 激光,自适应光学
- 光学元件及光学系统计量
- 等离子体检测